技術文章
Technical articles
熱門搜索：
GCDLSM-800端子插拔循環(huán)壽命試驗機
GCDLSM-800端子電流耐久性測試系統(tǒng)
GCDLSM-800端子高低溫循環(huán)測試儀
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗系統(tǒng)
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗機
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗測試儀
GDW-250電阻高溫度特性測試試驗臺
NLD-AI全自動高壓漏電起痕試驗 漏電測試儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗儀
GEST-121體積表面電阻測定儀
PMQS-I新款國產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質損耗測試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測量儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測試儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
FTDZ-I粉末電阻率測試儀
更新時間：2021-09-23
點擊次數(shù)：1357
測量次序
將直流電壓施加在試樣上,會改變其隨后測量的工頻 tan6的結果。
當在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時,工頻下測量應在對試樣施加直流電壓以前進行。工頻試驗后,應將兩電極短路1min后再開始測量電阻率。
導致錯誤結果的因素
雖然只有嚴重污染才會影響電容率。但微量的污染卻能強烈地影響 tan 和電阻率。
不可靠的結果通常是由于不適當?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴?、由未洗凈試驗池或吸收了水? 特別是存在不溶解的水份所引起。
在貯藏期間長久暴露在強光線下會導致電介質劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運輸以及試驗池的結構和凈化的標準化程序,可使由污染引起的誤差減至*小
當前位置：
